ERS推出半導體散熱測試領域尖端創(chuàng)新

2017-11-14 09:06 來源:美通社 作者:Janet

熱測試解決方案市場創(chuàng)新領導者 ERS electronic GmbH 宣布其面向半導體行業(yè)的產品系列取得重大創(chuàng)新,大大提升了用戶靈活性和成本效益。

與 MPI Corporation 合作開發(fā)的最新系列 AirCool? PRIME 熱卡盤帶來了出類拔萃的靈活性以及業(yè)內最快的過渡時間。憑借這一成就,該系統(tǒng)大大提高了客戶的測試吞吐量。并且,該系統(tǒng)有著市面上最大的熱區(qū)范圍,為各種半導體測試應用帶來無與倫比的靈活性。

ERS AirCool? PRIME 最初將面向 300mm 晶圓推出,采用靈活的模塊化頂板設計理念,實現(xiàn)輕松的現(xiàn)場升級。通過把 PRIME Thermo Shield (PTS) 整合進卡盤,AirCool? PRIME 產品大大縮短了測試周期內的均熱時間。它在卡盤周圍創(chuàng)造了一個小環(huán)境,實現(xiàn)快速、準確的測試。其超低的信號噪音(一位數(shù)塵安 (fA) 內)實現(xiàn)了極其靈敏的測量。

為了讓系統(tǒng)的熱能力適應客戶需求和預算,該系統(tǒng)可根據不同的溫度范圍(攝氏-60度到+300度之間)進行配置。

MPI Corporation 先進半導體部門總經理 Stojan Kanev 表示:“與 ERS Electronic 共同開發(fā) AirCool? PRIME 技術實現(xiàn)了功能特點的大幅提升,讓彼此客戶的熱芯片測試應用更有效?!?

ERS electronic GmbH 首席執(zhí)行官 Klemens Reitinger 表示:“我們很高興與 MPI 合作,為我們提供了有關充滿挑戰(zhàn)的分析晶圓測試測市場的寶貴意見和專業(yè)知識?!?

ERS 半導體散熱測試

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