一款TI/國半的超高速ADC調(diào)試經(jīng)驗(yàn)總結(jié)

2013-10-22 13:34 來源:電子信息網(wǎng) 作者:洛小辰

用芯創(chuàng)造未來

這次有幸調(diào)試了國半公司一款雙通道,8位,1.5G(單通道最高3G)采樣率的超高速ADC,芯片型號ADC08D1500。與普通高速芯片不同的是這款芯片的輸出擁有DDR模式。結(jié)構(gòu)框圖如下

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兩個(gè)1:2DEMUX分別用于I、Q兩路。按采樣時(shí)鐘2分頻的速率,每個(gè)通道分2路按Dx、DxD輸出,共4路輸出。SDR模式和DDR模式唯一的區(qū)別在于上圖的Output Clock Generator模塊,SDR工作在時(shí)鐘單邊沿采樣輸出模式,DDR則是時(shí)鐘雙邊采樣輸出模式。因此,DDR的輸出時(shí)鐘是采樣時(shí)鐘的4分頻,這個(gè)時(shí)鐘在FPGA內(nèi)部可使用IDDR邏輯資源匹配接收。SDR和DDR模式的時(shí)序圖如下

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至于該芯片的配置,模擬輸入的處理以及其他走線相關(guān)注意,這在datasheet里都有相當(dāng)詳細(xì)的描述,這里就不多說了。我主要想總結(jié)下調(diào)試這種AD的幾點(diǎn)經(jīng)驗(yàn)。這些經(jīng)驗(yàn)對高速,高精度AD的調(diào)試一樣適用。

一個(gè)項(xiàng)目中,尤其是涉及到信號處理的項(xiàng)目,AD的調(diào)試都是一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。如何對AD進(jìn)行測試,如何確定AD調(diào)試完成,在FPGA中如何對不同輸出模式的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理等。這一些系列的問題不光是寫寫代碼這么簡單,更重要的是要會(huì)分析數(shù)據(jù)。硬件設(shè)計(jì)上還要充分考慮到AD內(nèi)外時(shí)鐘的設(shè)計(jì),以及LVPECL、LVDS等差分線耦合方式的設(shè)計(jì)等。這其中任何一項(xiàng)內(nèi)容都可以拿來大書特書。我想這也是為什么在研究生電子設(shè)計(jì)中,專家最關(guān)心的是AD部分。針對這款A(yù)D芯片在調(diào)試過程中遇到的問題,總結(jié)下我的解決方法,以及數(shù)據(jù)分析時(shí)用到的一些方法。

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TI ADC

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