全面超越閃存 讀寫僅用10納秒的存儲(chǔ)技術(shù)

2013-10-25 10:38 來源:電子信息網(wǎng) 作者:洛小辰

在現(xiàn)代的計(jì)算機(jī)內(nèi)存技術(shù)里,速度和存儲(chǔ)的持久性猶如魚與熊掌不可兼得。RAM(隨機(jī)訪問存儲(chǔ))速度快,但是東西存放不久;硬盤或閃存則相反,東西可以存放很久,但是訪問速度相對(duì)較慢。不過《自然通訊》今天介紹的一種原型存儲(chǔ)設(shè)備卻打破了這種限制,這種設(shè)備通過電子存儲(chǔ)及與太陽能電池相同的讀取技術(shù)的結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了訪問速度快、數(shù)據(jù)存放久及耗電低這三大優(yōu)點(diǎn)。

這項(xiàng)原型設(shè)備由加州大學(xué)伯克利分校的材料科學(xué)家Ramamoorthy Ramesh以及新加坡南洋大學(xué)的氧化材料專家Junling Wang聯(lián)合建造,他們采用的材料名為鐵酸鉍。

傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)內(nèi)存中,信息是存放在保持有不同數(shù)量電荷的單元里的,每一個(gè)分別代表了二進(jìn)制的“1”或“0”。相比之下,鐵酸鉍卻用兩種極化狀態(tài)之一來表示那些數(shù)位,而且在電壓加載時(shí)進(jìn)行狀態(tài)切換,這種特性被稱為鐵電性?;谄渌牧系木哂需F電性的RAM已經(jīng)投放市場了。這種RAM速度很快,但是應(yīng)用卻沒有得到推廣。其中一

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個(gè)問題是電信號(hào)往往讀出一個(gè)二進(jìn)制位就得刪掉一位,所以數(shù)據(jù)每次都要重寫。隨著時(shí)間的推移這會(huì)導(dǎo)致可靠性的問題。


兩位研究人員意識(shí)到他們可以利用鐵酸鉍的另一項(xiàng)優(yōu)點(diǎn)來避免破壞性的內(nèi)存讀取。2009年,美國羅格斯大學(xué)的研究人員演示了這種材料對(duì)于可見光具有光電響應(yīng)特性—即只要有光照到這種材料上它就會(huì)產(chǎn)生電壓。電壓的大小取決于材料所處的極化狀態(tài),而且可以利用電極或晶體管讀取。至關(guān)重要的是,這種材料被光照射后并不會(huì)改變極性,所以存放在上面的數(shù)據(jù)也就不會(huì)被刪除掉。

為了測試光電型鐵電存儲(chǔ)器是否行得通,Ramesh和Wang在金屬氧化物表面上鍍了一層鐵酸鉍膜,然后將其蝕刻為4條,在這四條蝕刻條上面他們又直角交叉搭上四根金屬條。交叉出來的16個(gè)方格每一個(gè)都充當(dāng)了一個(gè)內(nèi)存單元,而金屬和金屬氧化物則充當(dāng)電極。研究小組利用電極來極化這些內(nèi)存單元,然后用光線照射它們,結(jié)果發(fā)現(xiàn)它們生成了兩種電壓讀數(shù),一正(1)一負(fù)(0)。

些內(nèi)存單元的讀寫用時(shí)不到10納秒,而記錄這些數(shù)據(jù)的電壓只需3伏。相對(duì)而言,目前領(lǐng)先的非易失性RAM技術(shù)—閃存的讀寫時(shí)間是其10000倍,而記錄所需電壓為15V。

變小

主持羅格斯大學(xué)2009年那項(xiàng)研究的凝聚態(tài)物理學(xué)家Sang-Wook Cheong說,這是鐵電廣生伏打效應(yīng)朝著技術(shù)應(yīng)用邁出的重要一步。

半導(dǎo)體研究公司的材料專家Victor Zhirnov則說,這項(xiàng)技術(shù)需要在小型化上取得更大突破才能具有競爭性。商用閃存的組件可以小至22毫微米,而這款原型所用的材料卻有10微米之寬。唯有把尺寸做小才能提高內(nèi)存容量,從而降低造價(jià)。

Ramesh說,把原型設(shè)備做小不存在根本性的障礙,但是實(shí)踐性挑戰(zhàn)是有的。

此外,目前原型設(shè)備是整體照射的,這種做法顯然缺乏實(shí)用。但是設(shè)計(jì)出能逐個(gè)照射內(nèi)存單元的系統(tǒng)是件麻煩事。因此工程師必須想辦法設(shè)計(jì)出可以單獨(dú)照射內(nèi)存單元的光學(xué)組件。

閃存

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